計器などに映り込む外光の影響を除去する撮像処理技術を開発しました

2023年5月16日

～長岡技術科学大学との共同研究～

株式会社正興電機製作所（本社：福岡県福岡市博多区　代表取締役社長：添田　英俊）は、長岡技術科学大学応用波動光学研究室（教授：小野 浩司）との共同研究において、カメラで撮影した画像を鮮明化できる技術を開発しました。

◆開発技術の概要
カメラによる遠隔監視時に、計器のカバーに外光が映り込み、偏光フィルター等では外光の影響を除去できない劣悪な環境下においても、偏光探査型偏光撮像法と画像処理技術を用いて光の映り込みの軽減および計器文字盤を鮮明化できる技術を開発しました。

この技術を利用して撮像した画像は、AI処理する際により精度の高い処理が可能となります。

偏光探査型偏光撮像法（Polarization Probe Polarization Imaging: PPPI）の概略図

◆参考画像

＜光の映り込みの除去前＞

＜光の映り込みの除去後＞

人口減少・高齢化により、社会インフラ設備の保安に関わる人出不足が深刻となっており、保安品質を下げることなく省人化を進めることが急務となっています。
今後当社では、スマート保安を推進し、これらの課題解決に貢献してまいります。

◆本研究成果に関連する技術情報
本技術は、長岡技術科学大学と（株）オプトゲートが、JST-CREST「独創的原理に基づく革新的光科学技術の創成」において、「幾何学位相回折素子による赤外・THz偏光撮像技術開発」と題したプロジェクトで開発された成果ベースに、さらに精度を向上させたものです。

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本件に対するお問合せ先：
株式会社正興電機製作所 新規事業推進部門
〒812‐0008 福岡市博多区東光 2 丁目 7‐25
TEL:092‐473‐8831
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